图片仅供参考,产品以实物为准
同惠TH2840B 精密LCR数字电桥产品详细规格
测试频率: 20Hz- 2MHz
高稳定性和一致性: 14个量程配置
高功率:信号电平: 20VAC/100mAAC
内置直流偏置:土40VDC/100m ADC
内置电流源:土2A
DCR电平: 20VDC/100mADC
高速度:测试速度高达0.56ms ( 1800次/秒)
高分辨: 10. 1英寸，分辨率1280*800，电容式触摸屏
点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
四参数测量
201点多参数列表扫描功能
图形扫描功能，4轨迹任意选择，支持1/2/4分屏
分选功能: LCR模式10档分选
高兼容性:支持SCP IMODBUS指令集,
兼容KYSIGHT E4980A、 E4980AL 、HP4 284A
■ 无源元件：
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组
件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件：
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；
晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件：
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料：
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料：
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
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产品型号 |
TH2840A |
TH2840B |
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显示 |
显示器 |
10.1英寸电容触摸屏 |
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比例 |
16:9 |
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分辨率 |
1280×RGB×800 |
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测量参数 |
方式 |
四参数任意选择 |
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AC |
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC |
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DC |
RDC、VDC、IDC |
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测试频率 |
范围 |
20Hz-500kHz |
20Hz-2MHz |
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精度 |
0.01% |
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分辨率 |
0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz) |
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1mHz (100.000Hz-999.999Hz) |
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10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz) |
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100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz ) |
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1Hz (100.000kHz-999.999kHz) |
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10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz) |
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AC测试信号模式 |
额定值(ALC OFF) |
设定电压为测试端开路时Hcur电压 |
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设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流 |
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恒定值(ALC ON) |
保持DUT上电压与设定值相同 |
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保持DUT上电流与设定值相同 |
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测试电平 |
电压范围 |
5mVrms-20Vrms |
F≤1MHz 5mVrms-20Vrms F＞1MHz 5mVrms-15Vrms |
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准确度 |
±（10%×设定值+2mV）（AC≤2Vrms） ±（10%×设定值+5mV）（AC＞2Vrms） |
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分辨率 |
1mVrms（5mVrms-0.2Vrms） |
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1mVrms（0.2Vrms-0.5Vrms） |
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1mVrms(0.5Vrms-1Vrms) |
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10mVrms(1Vrms-2Vrms) |
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10mVrms(2Vrms-5Vrms) |
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10mVrms(5Vrms-10Vrms) |
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10mVrms(10Vrms-20Vrms) |
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电流范围 |
50μArms-100mArms |
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分辨率(100Ω内阻) |
10μArms (50μArms-2mArms) |
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10μArms (2mArms-5mArms) |
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10μArms (5mArms-10mArms) |
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100μArms (10mArms-20mArms) |
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100μArms (20mArms-50mArms) |
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100μArms (50mArms-100mArms) |
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RDC测试 |
电压范围 |
100mV-20V |
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分辨率 |
1mV(0V-1V) |
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10mV(1V-20V) |
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电流范围 |
0mA-100mA |
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分辨率 |
10μA(0mA-10mA) |
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100μA(10mA-100mA) |
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DC偏置 |
电压范围 |
0V-±40V |
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准确度 |
AC≤2V 1%×设定电压+5mV |
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AC>2V 2%×设定电压+8mV |
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分辨率 |
1mV(0V-1V) |
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10mV(±1V- ±40V) |
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电流范围 |
0mA-±100mA |
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分辨率 |
10μA(0mA-10mA) |
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100μA(10mA-100mA) |
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内置电流源 |
电流范围 |
0mA-2A |
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准确度 |
I>5mA ±（2%×设定值+2mA） |
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分辨率 |
1mA |
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测试端配置 |
四端对 |
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测试电缆长度 |
0m、1m、2m、4m |
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输出阻抗 |
30Ω，±4%@1kHz |
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100Ω，±2%@1kHz |
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数学运算 |
与标称值的偏差Δ，与标称值的百分比偏差Δ% |
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等效方式 |
串联、并联 |
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校准功能 |
开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD |
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测量平均 |
1-255次 |
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量程选择 |
自动AUTO、手动HOLD |
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量程配置 |
LCR |
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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RDC |
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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测量时间（ms） |
快速+:0.56ms
快速:3.3ms
中速: 90ms 慢速: 220ms |
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准确度 |
0.05%（具体参考说明书） |
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测量显示范围 |
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Cs、Cp |
0.00001pF-9.99999F |
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Ls、Lp |
0.00001μH-99.9999kH |
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D |
0.00001-9.99999 |
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Q |
0.00001-99999.9 |
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R、Rs、Rp、X、Z、RDC |
0.001mΩ-99.9999MΩ |
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G、B、Y |
0.00001μs-99.9999S |
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VDC |
±0V-±999.999V |
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IDC |
±0A-±999.999A |
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θr |
-3.14159-3.14159 |
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θd |
-179.999°-179.999° |
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Δ% |
±（0.000%-999.9%） |
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多功能参数列表扫描 |
点数 |
201点，每个点可设置平均次数，每个点可单独分选 |
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参数 |
测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流(100mA)、DC BIAS电流(2A) |
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触发模式 |
顺序SEQ：当一次触发后，在有扫描点测量，/EOM/INDEX只输出一次 |
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步进STEP：每次触发执行一个扫描点测量，每点均输出/EOM/INDEX，但列表扫描比较器结果只在的/EOM才输出 |
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其他特点 |
1.扫描参数与测试参数都有多种复制功能 2.每个扫描点均可设置延时 |
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比较器 |
每个扫描点多可测量四个测试参数，每个参数均可设置上下限，有测试参数都合格输出PASS信号，否则输出FAIL信号，未设上下限则不判断 |
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图形扫描 |
扫描点数 |
51、101、201、401、801点可选 |
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结果显示 |
每个参数的极值以及光标在点的扫描参数值与对应的测试参数值 |
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扫描轨迹 |
1-4个测试参数任意选择，扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏 |
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显示范围 |
实时自动、锁定 |
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坐标标尺 |
对数、线性 |
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扫描参数 |
频率、AC电压、AC电流、DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A) |
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触发方式 |
单次 |
手动触发一次，从起点到终点一次扫描完成，下个触发信号启动新一次扫描 |
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连续 |
从起点到终点无限次循环扫描 |
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结果保存 |
图形、文件 |
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比较器 |
Bin分档 |
10Bin、PASS、FAIL |
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Bin偏差设置 |
偏差值、百分偏差值、关 |
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Bin模式 |
容差、连续 |
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Bin计数 |
0-99999 |
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档判别 |
每档多可设置四个参数极限范围，四个测试参数结果设档范围内显示对应档号，出设定档号范围则显示FAIL，未设置上下限的测试参数自动忽略档判别 |
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PASS/FAIL指示 |
满足Bin1-10,前面板PASS灯亮，否则FAIL灯量 |
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数据缓存 |
201个测量结果可分批读取 |
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存储调用 |
内部 |
约100M非易失存储器测试设定文件 |
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外置USB |
测试设定文件、截屏图形、记录文件 |
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键盘锁定 |
可锁定前面板按键，其他功能待扩充 |
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接口 |
USB HOST |
2个USB HOST接口，可同时接鼠标、键盘，U盘同时只能使用一个 |
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USB DEVICE |
通用串行总线插座，小型B类（4个接触位置）；与USB TMC-USB488和USB2.0相符合，阴接头用于连接外部控制器。 |
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LAN |
10/100M以太网自适应 |
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HANDLER |
用于Bin分档信号输出 |
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外部DC BIAS控制 |
支持TH1778A |
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RS232C |
标准9针，交叉 |
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RS485 |
可以接受改制或外接RS232转RS485模块 |
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开机预热时间 |
60分钟 |
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输入电压 |
100-120VAC/198-242VAC可选择，47-63Hz |
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功耗 |
不小于130VA |
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尺寸（WxHxD）mm3 |
430x177x265 |
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重量（kg） |
11kg
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